大学物理薄膜干涉,测定二氧化硅薄膜的厚度,形成劈尖,利用等厚条纹测出其厚度,
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制造半导体元件时,常需要精确地测定硅片上的二氧化硅薄膜的厚度,这时可以把二氧化硅薄膜的一部分腐蚀掉,使它成为劈尖,利用等
光的薄膜干涉中,如果薄膜厚度均匀,会产生干涉条纹吗
薄膜干涉:如果薄膜的厚度均匀 会产生彩色条纹吗?
薄膜干涉:如果薄膜的厚度均匀 为什么会有彩色条纹吗?
为什么在薄膜干涉时,相同薄膜厚度的点一定在同一条纹上,同一干涉条纹上的点薄膜厚度相同?
当薄膜干涉的条纹是等距的平行明暗条纹时,说明薄膜厚度处处相同
为什么薄膜干涉中任意一条明条纹或暗条纹所在位置下的薄膜厚度会相等
等厚干涉问题1波长为λ的平行单色光,垂直照射到劈尖薄膜上,劈尖薄膜的折射率为n,第三级亮纹对应的薄膜厚度为———5λ/4
白光射到薄膜上形成薄膜干涉,为什么从紫光到红光对应的薄膜厚度从薄到厚
等厚干涉的薄膜厚度是指什么,怎么求