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大学物理薄膜干涉,测定二氧化硅薄膜的厚度,形成劈尖,利用等厚条纹测出其厚度,

来源:学生作业帮 编辑:拍题作业网作业帮 分类:物理作业 时间:2024/05/06 10:37:17
大学物理薄膜干涉,测定二氧化硅薄膜的厚度,形成劈尖,利用等厚条纹测出其厚度,
一直si 3.24 sio2 1.5 入射光波长,观察到七条暗纹,求厚度e
请问列暗纹公式的时候2k+1 为什么把k代成6?
我问你第一个暗条纹,k为0还是1,搞清楚这一点就可以了.
显然第一条暗纹的k取值为0,所以,第七条暗纹的k取值自然是6了.