利用光的干涉检查平整度?原理是什么?为什么平面向下凹则干涉条纹向楔形膜中薄的一侧弯曲?

来源：学生作业帮编辑：拍题作业网作业帮分类：物理作业时间：2024/05/14 13:49:45

上一块光洁度高的板的下表面与待测面之间的空气层形成薄膜干涉.若待测面光洁度高,在上板观测到的亮线与暗线平行.若待测面有突起,此处对应的光程差小于此点未突起时的光程差,所以这点的光程差与靠近劈尖的尖部某点的光程差相同,所以这点未突起时对应条痕若是亮的,现在就变暗(若原是暗的,现在就变亮),所以这点对应的条痕弯向劈尖厚部.同样分析,可知这点凹陷时,条痕弯向劈尖尖部.
疑问：为什么只要考虑空气薄膜界面上发生的反射,上一块光洁度高的板上表面也有反射,他对观察结果没影响吗?
标准件的上下表面平行,它们的反射光的相位差处处都相同——它们干涉的结果处处相同,不会有明暗条纹.另外,被测物件一般都不透明,所以就没它的下表面什么事儿了.
标准件的上表面和被测物的上表面产生的条纹间距与标准件的下表面和被测物的上表面产生的条纹间距是完全相同的,且两者的对比度不同,于是条纹的明暗就由其中之一决定.通常只讲后者,我想是为了叙述方便,而且这也不影响原理的说明.

利用光的干涉检查平整度?原理是什么?为什么平面向下凹则干涉条纹向楔形膜中薄的一侧弯曲? 利用光的干涉检查平整度通过条纹的弯曲情况,判断弯曲处事凹面还是凸面; 利用光的干涉检查平整度的实验中条纹间距是多少? 利用光的干涉检查平整度怎么来判断? 干涉法检查被检测平面的平整度应用了光的双缝干涉原理利用光的干涉检测平整度的原理?平面的条纹间距为什么相同,空气膜的厚度并不一样?凸面的条纹为什么向左凸而不是右? 利用光的干涉检查平整度时,怎么判断凹凸?(人教版物理选修3-4第69页图,尖端在左,薄片在右,条纹向左弯) 干涉检验平面平整的原理如何利用光的干涉原理检测一块反光表面的平整度关于薄膜干涉的应用用干涉法检查平面是否平整,为什么如果被检测平面是光滑的,得到的干涉图样是等间距的,为什么凹下明纹提前根据光的干涉,如何由条纹情况判断平面凹凸,老师让背下来,凸,条纹右弯.凹,条纹左弯.为什么检查表面的平整度薄膜干涉