xrd测试时候怎么保证每个晶体都与射线角度是θ

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.

利用XRD图谱计算晶格常数,首先要确定样品的晶胞类型,然后利用图谱几个相对强度较大的峰,在标准图中找到相应的k,h,l和相应晶胞角度,带入相应的计算公式,就可以解出相应的晶格常数了:用JADE软件可以

单晶还是多晶做个TEM中的SAED电子衍射不就行了,是点阵就是单晶,是环状就是多晶,XRD上是不容易确定的.查看原帖

寻峰后的结果里应该有个半高宽的参数,就是计算晶粒大小的,关键是你得有一个已知晶粒大小的标样!

?:tiger05:zbdfwq5777(站内联系TA)利用软件拟合XRD就可以.利用软件拟合XRD就可以.X'pertPlus,GSAS,TOPAS,Fullpro等程序都可以,但初学者估计有一点难

XRD测试基本上每个高校科研院所都可以测试,拥有XPS的单位就相对较少一些,清华、北大等这些一流院校都可以测,由于XPS抽真空时间比较长,效率低一些,一般在高校预约的话需要排一个月左右,如果想要快点的

入射角度,射线强度等

不知所云……若是只想测其中一个单体,测试员会忙你屏蔽其他干扰峰再问：是这样的，新合成一种物质，测出的谱图很复杂，估计是反应物有残留，找溶剂过滤，结果不好过滤，就把反应物做了XRD，这两种谱图能得出新合

首先简单说下原理——角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入

一种获得X射线单晶体衍射图的实验技术.常用闪烁计数器作探测器.入射光和探测器在一个平面内（称赤道平面）,晶体位于入射光与探测器的轴线的交点,探测器可在此平面内绕交点旋转,因此只有那些法线在此平面内的晶

通过控制结晶的温度,pH,同时还可以加入模板材料来控制晶体的形态.控制晶体沿特定晶轴生长,从而得到不同形貌的晶体.

是不是噪声背底太高了?对数据处理一下就可以了.

XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移

看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度（Int

我的许多回答都和你的问题有关,可以去看看：一、谱图横坐标2θ,从而知道掠射角θ(入射角的余角,又称为布拉格角).然后就可以求得谱线对应的晶面-晶面间距d值；最后可获得晶体的长宽高几何尺寸.二、谱图的谱

在写文章的时候,很多人需要用origin做出XRD处理图,以支持自己的观点.但是很多XRD谱图的文件类型是raw或者其他形式的,不能直接用origin打开.下面我们为大家讲解如何使用origin打开X

XRD衍射图一般是进行定性分析的.求各相比例是定量分析的内容.用XRD衍射图很难进行定量分析,分析出来的数据也不准确.至于求法,主要是看峰高（峰高反应强度）,不同相的峰高比就差不多是其含量的比例.

影响不大,

用origin把图叠在一起就醒了,这样看起来理解容易,准备paper也方便.另：楼主写的问题不够清楚XRD主要进行相结构分析的.首先,你要知道做X衍射你再问：我现在得到的都是**.txt或**.raw