椭圆法测薄膜厚度

你应该找一个标准片进行参比,单独一片只能测出绝对吸光度用处不大.找同一种材质的标准片就可以参照比尔定律了.

明哥说了100C等于1MM

要么光亮一片,要么显得暗淡（取决于薄膜厚度）,不会出现明暗相间的干涉条纹.

楼主,  X射线衍射法,对样品测试收费要远高于红外光谱的.如果你是单纯想测量薄膜的精确厚度,可以用红外光谱法（IR),精确度可达cm^(-1)量级.在红外光谱范围内,1000cm^

均匀薄膜也能产生干涉,只不过看到的就是单色,不是条纹.下一个问题你的看法是对的.但是若考虑薄膜的两面,就是从反面看,就恰恰相反了.

单位时间内横截面上流过的电子越多电流就越大相同材料的薄膜厚度越大很截面积越大单位时间内通过的电流越大(这是表面现象）电导率就能看出来比薄的大电阻率小很直观的想法就是类比水流假设单位面积在单位时间流过的

椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率在现代科学技术中,薄膜有着广泛的应用.因此测量薄膜的技术也有了很大的发展,椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方

薄膜干涉——等厚条纹：明纹条件：2ne+λ/2=kλ；若减小薄膜的厚度,原先的零级暗纹逐渐消失,在边缘处的第一级明纹会变成零级暗纹,依次类推,第二级明纹第一级暗纹,……明纹的宽度为：L=λ/(2nsi

因为波程差相同的光是在同一干涉条纹（同一级）上的,而相同薄膜厚度的点,那里的两束光的光程差相同.注：在高中可能说是路程差.

我问你第一个暗条纹,k为0还是1,搞清楚这一点就可以了.显然第一条暗纹的k取值为0,所以,第七条暗纹的k取值自然是6了.

所谓的薄膜干涉就是说当薄膜的厚度等于光的波长的时候,该光在薄膜的表面和里面的反射光形成叠加效果发生干涉,紫色光的波长是所有的可见光中最短的,所以薄膜的要求厚度也是最小.

若实验未开始,在蒸镀的时候,遮上一块硅片,根据探针测试法就可以知道二氧化硅薄膜厚度了.如果已蒸镀,可用氢氟酸和氟化氨溶液将二氧化硅腐蚀,不一定要劈尖状,因为量一下腐蚀彻底的边缘硅片厚度,再与硅片上二氧

椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率椭偏法测量的基本思路是,起偏器产生的线偏振光经取向一定的1/4波片后成为特殊的椭圆偏振光,把它投射到待测样品表面时,只要起偏器取适当的透光方向,被待测样品表面反射出来的将

由于重力因素,薄膜的厚度并不是均与分布的,而是上面薄,下面厚,这样导致了光束通过薄膜时具有不同的光程差,这样就导致了原光场分布相位的变化,可以在屏幕上观察到干涉条纹

首先你需要有标准薄膜最少5片按照梯度设置.此标准薄膜厚度你是知道的.然后用此薄膜做出一条吸光度曲线.建立好之后插入未知薄膜即可测得一个吸光度.一般的软件就可以直接计算出厚度了.这个和测定溶液浓度是一个

椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率在现代科学技术中,薄膜有着广泛的应用.因此测量薄膜的技术也有了很大的发展,椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方

等厚干涉重要的一个结论是\x08相邻条纹间隔永远是半波长那么此题6个条纹于是7个间隔,6*1.5*550nm=5.775um[micro-meter].这题难点在于判断六个条纹到底是几个间隔,也就是说

薄膜的厚度均匀,对于单色光会发生薄膜干涉,白光是复色光,具有不同的波长,对于同一入射角,不同波长的光折射角不同,会造成“色光的分散”,不同单色光各自单独形成的薄膜干涉条纹其实不会完全重合,这样,对于同

吹膜机出现皱折可能由于机头安装不平、薄膜厚度不均匀、冷却不够或不均匀、夹板或牵引辊与机头中心未对准、夹板夹角太大、牵引辊的松紧不一致、卷取张力不恒定.

光线传播进去,镜头反射一部分出来,这样进去出来,不是厚度的2倍嘛.