作业帮光学 利用光的干涉检查平整度
来源：学生作业帮助网 编辑：作业帮 时间：2024/04/30 10:21:56
检测平整度用的是空气劈尖干涉原理,当光垂直入射时,在工件的上表面和玻璃板的下表面反射的光相干涉,当光波的光程差为波长的整数倍时,形成明条纹,为半波长的奇数倍时,形成暗条纹.而光程差取决于空气层的厚度,
检查平整度用的是等厚干涉,两个明纹直接,工件的厚度差为一个波长,明纹暗纹之间厚度差是半个波长,从三角关系就可以看出,厚度是倾角对的直角边,条纹间距是斜边,所以倾角的正弦值=厚度差/条纹间距,也就是条纹
上一块光洁度高的板的下表面与待测面之间的空气层形成薄膜干涉.若待测面光洁度高,在上板观测到的亮线与暗线平行.若待测面有突起,此处对应的光程差小于此点未突起时的光程差,所以这点的光程差与靠近劈尖的尖部某
这里不需要偏振光源照射,也没有起偏振片
一般检测平面的平整度用平行平晶来检测,平行平晶的面积都不会做太大（面积越大加工工艺越复杂成本越高）,也就是说通常平行平晶的面积是小于待测样品面积的,被检查平面放在下面,平晶放在上面移动,这样操作比较方
用“前凹后凸”来判断.从空气薄膜的薄向厚看,如果条纹提前出现,则被测表面是凹下去的.如果条纹延后出现,则被测表面是凸起的.
画出三角锥的刨面图,在下面画出薄膜的刨面图,在竖直方向画上平行光束,就行了!三角锥厚度减小,干涉形成的条纹数较少.
这是利用等厚干涉来检测工件的平整度，同一干涉条纹对应着相同的空气膜的厚度，故称为等厚干涉。在同条纹下的薄膜厚度相同，如果平板平整，则距交线相等距离处的薄膜厚度相同，表现在干涉条纹上就是直线；如果某处有
同一条条纹对应的厚度相同,条纹向左弯曲,说明缺陷处的厚度和右侧直线处的厚度相同,变大了,说明有凹坑
首先条纹肯定是明暗相间的,取从玻璃距物体越来越远的方向为正方向,条纹向正方向弯曲,则为凸.向负方向弯曲则为凹.
激光照射,反射光和光源分光干涉,看条纹的平整度.或者,往上面浇一层透明的油膜,看干涉条纹.
从两玻璃片接触处开始看使得光的传播介质不同,这样就造成了它的路程差d=n⋌/2,出现了强弱区分明显的干涉图案.牛顿环 又称“牛顿圈”.在光学上,牛顿环是一个薄膜干涉现象.&nbs
检验平整度就是看中间的空气层的厚度与光波长的关系平整时斜面是线性均匀变化的.凹凸的存在会进行扰乱凹凸时,相当于把临近区域厚度进行平移.那么,区域条纹也就改变
薄膜干涉把金属丝圆环在肥皂液里蘸一下,环上就形成一层肥皂液薄膜．用单色光照射薄膜,薄膜上就产生明暗相间的干涉条纹（图6-4）．产生这种现象是由于照射到膜上的光会从膜的前表面和后表面分别反射回来,形成两
原干涉条纹（左侧对应为尖角位置,实线为亮纹,虚线为暗纹,且假设第二条亮纹对应的垂直位置上物体表面不平整）：｜┊｜┊｜┊（2）检验条纹（物体表面凸起时）｜┊（┊｜┊（3）检验条纹（物体表面凹陷时）｜┊）
不是双缝干涉,而是薄膜干涉.
光的干涉,理论上讲,若被测表面与标准平面一致,产生的干涉条纹均匀分布,有凹凸现象,则条纹会宽或窄
向左,因为凹下去的地方本来会出现条纹,由于凹下去的缘故,使样板与被测平面间的间距增大,若要产生条纹,就得使间距减小,与平整时的间距相同,使两列反射波叠加后出现亮或暗,所以光线只有向左移才会使间距与凹处
又称“牛顿圈”.光的一种干涉图样,是一些明暗相间的同心圆环.例如用一个曲率半径很大的凸透镜的凸面和一平面玻璃接触,在日光下或用白光照射时,可以看到接触点为一暗点,其周围为一些明暗相间的彩色圆环；而用单
薄膜干涉把金属丝圆环在肥皂液里蘸一下,环上就形成一层肥皂液薄膜．用单色光照射薄膜,薄膜上就产生明暗相间的干涉条纹（图6-4）．产生这种现象是由于照射到膜上的光会从膜的前表面和后表面分别反射回来,形成两