XRD峰变宽因为什么

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/04/25 16:33:38
什么样的薄膜材料测XRD的时候峰不明显

先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.

XRD谱图峰窄宽代表什么意思

鉴别物相首先从峰位入手,如果峰位能对上,初步判定为该物质;其次,还要看各衍射峰的强度相对比是否也与标准卡片上的峰强比一致,如果都一样则可肯定为该物质.峰形与样品是晶体还是非晶体有很大关系,如果是馒头峰

求高手解释下这张XRD除了能说明样品是非晶的还能说明什么信息,这个馒头峰的峰位能代表什么意义么?

我见过的非晶态的物质,二氧化硅微粉就是这样的衍射峰,馒头峰估计是大量微小晶粒衍射的结果.

XRD问题:XRD中小角衍射峰能告诉我们什么信息?

通过衍射峰的峰位,可以计算该物质的Bragg长周期(L=λ/2θ),粒度等.还可用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子(或固体物质中的超细空穴)的大小、形状及分布.对于

怎么从测得的XRD看晶体是单晶的还是多晶的呢,跟峰的多少有什么关系呢.同一种物质粉末和薄膜测得的XRD区别是不是很大

单晶还是多晶做个TEM中的SAED电子衍射不就行了,是点阵就是单晶,是环状就是多晶,XRD上是不容易确定的.查看原帖

XRD图普 除了对比标准图谱,还可以分析什么?

XRD是定性用的,但是也能做到不大准确的定量分析.首先和标准图谱对比,能知道其含量,具体方法:选择一个比较明显的特征峰,先算出标准图谱的这个特征峰的积分面积,然后把需要测试的样品的同一个特征峰的积分面

请问XRD高手:我做的XRD图谱,本来该出现一个峰的地方变成了三个峰,这三个峰是连在一起的,请问什么原因?

可能出现了多层结构,比如说物相分离,或者应变情况不同.还有可能是出现了次级衍射卫星峰

XRD谱图分析,纳米羟基磷灰石制备,XRD出来的图,因为没学过仪器分析,什么都看不懂,哪位大侠可以救救我,明天就要交结果

第一步,你先去把氢氧化钙,硝酸铵,Ca(PO4)3(OH)的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法或者K值法算样品中三种晶相的百分含量.内标法要

XRD图谱只有一个峰如何分析

楼上的回答有误.如果你做的是粉末衍射的话,只有一个峰,你要先在pdf卡片中找到最可能的物相是哪一个,然后看你的物质和标准卡片对比少了的峰是哪些,还有就是你测试的物质这个唯一的峰对应的是不是标准卡片上的

xrd图谱解析我想知道,XRD图谱的峰位.峰宽,峰高,分别代表什么,假如知道待测物质,如何观察,和需要看些什么.

峰位:如果不知道了待测物质是什么,通过峰位可以算出晶格常数,从而确定物质.如果已经知道了物质,算出的晶格常数应该跟你知道的物质的晶格常数差不多,差量可能是内应力引起的.可以据此分析内应力.峰宽:如果是

XRD图谱中峰的高低能说明什么问题吗

方面:结晶度的问题.定性:峰强越强,结晶越好!定量:可用软件(比如JADE),计算结晶度.

氧化铜的XRD衍射特征峰是多少?

16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.

在XRD 分析中,峰的强度低,

峰的强度低是XRD图谱的性质,就是峰不是很尖锐,峰很钝,学名叫宽化,这样反应的样品性质就是粒径很小,结晶度低是样品的性质,反映在图谱上就是有很大的噪音,图谱毛刺现象很重,需要平滑之后才能看.峰强度和结

xrd半峰宽表示什么物理意义

表征的是晶体的晶粒大小,晶粒越小,宽化越严重,反之晶粒越大,衍射峰越尖锐,有个谢乐公式可以根据半峰宽和d值计算晶粒大小,但这公式只能用于计算粒度小于100nm的晶粒.再问:如果半峰宽是0.204,那么

纳米二氧化钛的XRD图谱分析 确定是锐钛型想知道各个峰代表什么

你这个不是纯的锐钛型二氧化钛,是否纳米级这个没法看出来,但是我可以肯定你的不是纯的锐钛型二氧化钛,里头掺杂了金红石型二氧化钛.比如锐钛型二氧化钛一般在25度左右有一个明显的特征峰,在37-40度之间有

XRD图谱上衍射峰不明显(或缺失)说明什么?

衍射峰位置,多少决定物质的外形,(立方或六方等等),还有晶胞尺寸.(共两个因素)一般来讲,单质元素,小体积.衍射峰就少.正常的.(你可以比对大晶胞和小晶胞的衍射线数量).影响原因:测试角度小了.解决方

【请教】小角XRD衍射和小角XRD散射有什么区别?

小角XRD衍射缩写是SAXD,小角XRD散射的缩写是SAXS,二者的原理还是有很大的区别的.衍射对应的是周期性结构引起的相干,而散射对应的是电子密度的波动.具体可以看看这本书:也可以看看附件的那篇文献

xrd和x-ray scattering有什么关系?

一般而言:分析方面:xrd即X-raydiffraction(测试角度广角5-80度)用于鉴定物相,解析结构,织构等用途;x-rayscattering(测试角度为小角1-5度)用于测试纳米介孔材料等

在xrd中物质有多少个峰由什么决定2

由该物质的结晶状态(晶体,非晶体)晶体结构(bcc,fcchcp),晶格常数(原子间距),还有所使用xrd的靶材料决定.