XRD图怎么看相对强度及晶粒大小

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

肯定会的嘛,其实说白了回火过程包括马氏体分解,碳化物的析出、转化、聚集和长大,铁素体回复和再结晶,残留奥氏体分解等四个反应.提高退火温度,不仅使晶粒长大,还会形象临界变形量的具体形变值,退火温度也高,

仅仅看分子量来判断不太准确一般的：烷烃：1个C到4个C的烃和新戊烷为气态烃.5个C到16个C为液态烃.17个以上则为固态烃.所有的卤代烃都是液态或气态烯烃和炔烃：小于等于4个C原子的烯烃和炔烃是气态其

相同体积的金属,细晶的表面积相对较大,能承受的强度也较大.

我简单的回答你的问题X射线图谱可以测没一个面的晶粒大小也可以测平均晶粒尺寸pengjuan(站内联系TA)这个算的不是很准的,只能作参考.λ不用介绍了,是你做的XRD仪的波长；θ是最强峰的衍射角,要注

寻峰后的结果里应该有个半高宽的参数,就是计算晶粒大小的,关键是你得有一个已知晶粒大小的标样!

晶粒细化后可以增加晶界所占百分含量,晶界对位错运动一般有阻碍作用从而加剧变形时的加工硬化效应,同时,均匀细小的晶粒有利于材料的均匀变形,即细化晶粒不仅可提高材料的室温强度,还可以改善材料的塑韧性.可参

峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高.峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸.峰高如果是相对背地强度高,表示晶相含量高,跟面积表示晶相含量一致.峰高如果是A峰相对B峰高很多,“两峰的高度比A

峰强度受很多因素影响,压片等,但是峰位置一般是固定的.工业催化(站内联系TA)如果!是三个主要的衍射峰!位置一样!强度都比标准或高的话!基本是这种物质!但是三个峰有的比标准低有的比标准高的话!应该就不

这不是衰减,是要去除仪器的宽化效应得到真实线性来计算再问：那这种曲线一般怎么得到？

我觉得你可能没有告诉jade你的仪器半高宽是多少,所以人家没有告诉你大小!第一自己做（si单晶）仪器校正曲线!第二,选择jade自带的校正曲线,这个值稍微有误差!

XRD是X射线衍射分析XRD图谱用来分析无机化合物的结构.通过XRD可以知道物质中所含的元素,以及元素的化合价,还可以通过相关的计算,得出该物质的空间点阵再问：谢谢了

首先应了解晶界和晶界的特点.两个取向不同的相邻晶粒交接处的界面是晶界.特点是:晶界处原子排列多有畸变,所以晶界是金属内部各种畸变,缺陷和杂质聚集的地带.这里自由能较高,相变时先形核;电阻大,熔点低;高

XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移

在写文章的时候,很多人需要用origin做出XRD处理图,以支持自己的观点.但是很多XRD谱图的文件类型是raw或者其他形式的,不能直接用origin打开.下面我们为大家讲解如何使用origin打开X

XRD衍射图一般是进行定性分析的.求各相比例是定量分析的内容.用XRD衍射图很难进行定量分析,分析出来的数据也不准确.至于求法,主要是看峰高（峰高反应强度）,不同相的峰高比就差不多是其含量的比例.

错,晶粒越小,比表面积越大,界面能越高,为了减少损耗能量,界面就会滑移,因此,韧性加强.

XRD图中有很多信息,如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等,其分析方法各不相同.比如,若是做物相分析,样品是已知物质的,你只要将XRD图谱与标准图进行比对就可以大致判断,一般设备中都会提供已知物

XRD数据怎么确定哪个峰是哪个晶面的?答：分两种情况：1,数据库中,有卡片,参照卡片,对应晶面；2,无卡片（新物质）,需要指标化,才能得到相应晶面.计算晶粒大小是用FWHM么?答：是的.但是谢乐公式有

密度取决于分子的疏密程度,而疏密程度又由分子的形状大小和之间的作用力.对于气体来说,分子形状简单、相对距离很大,所以密度=相对分子质量/22.4.而液体的内部作用非常复杂,所以相对分子量无法用简单的方