orign作xrd图 教程

XRD要做的是纯的晶体,是为了测定晶体结构的,而且对相(phase)数也是有要求.你做的土壤是混合物,相数太多了,这样是没有意义的.简单就数据分析来看,8.9,17.7,26.7三个数据可能是对应于同

encke(站内联系TA)报告XRD数据文件的格式是什么daixj21(站内联系TA)把XRD的原始数据导入origin,再作图阿水889(站内联系TA)先把你的原始数据的文件名改txt形式的,再把里

将数据格式转化为TXT文本格式,最好是X-Y格式（两列数据）,通过另存为变可以实现了,一般XRD设备中提供这种数据转换的软件.余下的事就简单了,直接导入到origin中就可以了.

这是一名专门的学科,不是几句话可以讲清楚的,还是买本书自己看看比较靠谱.再问：谢谢。

寻峰后的结果里应该有个半高宽的参数,就是计算晶粒大小的,关键是你得有一个已知晶粒大小的标样!

可以把几个图合并为一个图.先画好三个图,把横坐标设置为一样的.假设你的图谱的高度最大为20,三个图的纵坐标范围分别设为（0,60）（-20,40）（-40,20）,然后编辑菜单下拉,有个合并图层,点击

估计是蒙脱土的,环氧树脂碳酸钙PVC等不会在这么低的角度出峰,有机锡分散性能比较好,唯一可能的是蒙脱土,而且蒙脱土收受有机组分的支撑层间距会加大.

XRD是X射线衍射分析XRD图谱用来分析无机化合物的结构.通过XRD可以知道物质中所含的元素,以及元素的化合价,还可以通过相关的计算,得出该物质的空间点阵再问：谢谢了

波数：3441.90cm-1处出现的较宽的吸收峰,对应于-OH基的反对称伸缩振动和对称伸缩振动.1629.68(HOH).1103.05(SiO)cm-1处出现的强吸收谱带归属于Si-O-Si的反对称

2θ指的是你的横坐标,也就是封顶位置的横坐标读数.FWHM是指半高宽,也就是你的一个衍射峰一半位置的宽度,若没有软件,比较麻烦的方法是用尺子量,选择一个衍射峰,找到它高度一半的位置,然后量取它的宽度,

XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移

郁闷

file——》patern->选择要加的数据后点击add即可,然后在右边点向上的箭头就好了

对于加边框问题.将光标移动到底部的标尺上,右键选择Axis选项,点title&format选项,分别点左边框顶边框及右边框设置为显示状态

在写文章的时候,很多人需要用origin做出XRD处理图,以支持自己的观点.但是很多XRD谱图的文件类型是raw或者其他形式的,不能直接用origin打开.下面我们为大家讲解如何使用origin打开X

XRD衍射图一般是进行定性分析的.求各相比例是定量分析的内容.用XRD衍射图很难进行定量分析,分析出来的数据也不准确.至于求法,主要是看峰高（峰高反应强度）,不同相的峰高比就差不多是其含量的比例.

你只需要将草酸银的三强峰标出,和标准的XRD图谱对比可知,该样品的结晶度也很好,不存在晶面取向的问题.再问：谢谢你的回答，标准样品草酸银的三强峰具体在什么位置能补充一下吗，我对XRD不是很懂，多谢了再

XRD图中有很多信息,如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等,其分析方法各不相同.比如,若是做物相分析,样品是已知物质的,你只要将XRD图谱与标准图进行比对就可以大致判断,一般设备中都会提供已知物

可以试试~

首先说一句,扫描速度和仪器有关,一般老仪器都比较慢（因为灵敏度低）粗扫随意,选个中间的数比如5度每分钟就行了精细测定的时候要慢,比如每步0.02度,停留1s之类的不同仪器设定不同,问实验室的人是最好的