二氧化硅的XRD图谱

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

首先:2THETA值与晶面间距d有关(BRAGG定律),所以,你可以根据2THETA的位置,得到晶系和晶胞参数.即也可以定性.再次:峰的高度,可以用来定量或解析晶体结构,如果制样时产生了择优取向,还可

这是非晶的典型谱线.

利用XRD图谱计算晶格常数,首先要确定样品的晶胞类型,然后利用图谱几个相对强度较大的峰,在标准图中找到相应的k,h,l和相应晶胞角度,带入相应的计算公式,就可以解出相应的晶格常数了:用JADE软件可以

方法一：用jade5.0或者6.0,很复杂,你百度个教程看看方法二：人工分析第一步,你先去把可能物质的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法或者

用xrd图谱中的d值与标准的pdf卡片进行比对,先对三强峰的d值,误差不超过0.02就行,看看定性分析的书!很多的!

XRD是定性用的,但是也能做到不大准确的定量分析.首先和标准图谱对比,能知道其含量,具体方法：选择一个比较明显的特征峰,先算出标准图谱的这个特征峰的积分面积,然后把需要测试的样品的同一个特征峰的积分面

可能出现了多层结构,比如说物相分离,或者应变情况不同.还有可能是出现了次级衍射卫星峰

楼上的回答有误.如果你做的是粉末衍射的话,只有一个峰,你要先在pdf卡片中找到最可能的物相是哪一个,然后看你的物质和标准卡片对比少了的峰是哪些,还有就是你测试的物质这个唯一的峰对应的是不是标准卡片上的

你给出的XRD谱,已经是JCPDS（粉未衍射标准联合会）发行的PDF《粉末衍射卡片集》（Powder Diffraction Files,简称 PDF卡片）：80-007

峰位：如果不知道了待测物质是什么,通过峰位可以算出晶格常数,从而确定物质.如果已经知道了物质,算出的晶格常数应该跟你知道的物质的晶格常数差不多,差量可能是内应力引起的.可以据此分析内应力.峰宽：如果是

方面:结晶度的问题.定性:峰强越强,结晶越好!定量:可用软件(比如JADE),计算结晶度.

方法一：用jade5.0或者6.0,很复杂,你去百度个教程看看.方法二：人工解析第一步,你先去把可能物质的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法

我有pentaerythritol,pdf卡片号48-0161再问：但是里面有Na2SO4-Na2O-SiO2-Al2O3-CH3OH这些是指什么呢她们的卡片号一样？你能帮我分析下我的谱图么我的Q是8

你这个不是纯的锐钛型二氧化钛,是否纳米级这个没法看出来,但是我可以肯定你的不是纯的锐钛型二氧化钛,里头掺杂了金红石型二氧化钛.比如锐钛型二氧化钛一般在25度左右有一个明显的特征峰,在37-40度之间有

XPS元素分析XRD物相分析,还可以晶粒尺寸应力等,有专门的软件,如jade

首先简单说下原理——角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入

波数：3441.90cm-1处出现的较宽的吸收峰,对应于-OH基的反对称伸缩振动和对称伸缩振动.1629.68(HOH).1103.05(SiO)cm-1处出现的强吸收谱带归属于Si-O-Si的反对称

晶体学上来讲,分为七大晶系,十四种布拉菲格子,32种宏观对称类型,230种微观类型,也就是230种空间群.这些内容讲解了固体物质的几何类型,也就结合布拉格衍射条件.有不同的衍射图.可以认为大致有230

最简单的就是看峰的形状,如果是尖锐的峰说明结晶性能好,弥散的峰说明结晶性不行；还可以计算结晶度；最主要的是利用JADE软件分析,可以进行衍射峰的指标化、进行晶格参数的计算、根据标样对晶格参数进行校正、